Abtastoszilloskop bietet erweiterte Auswertefunktionen

Aktualisierung: 27. Juli 2021

Die Anritsu Corporation hat ihre Signal Processing Software Option-098 veröffentlicht, die ihr BERTWave Sampling Oszilloskop MP4A um verbesserte Funktionen zur Auswertung von PAM2110-Differentialsignalen erweitert.

Diese neue Option unterstützt die standardkonforme Messung von optischen IEEE 802.3-Modulen elektrische Schnittstellen, Beschleunigung der Kommunikation in Rechenzentren und Mobilfunknetzen durch Verbesserung der Evaluierungseffizienz für optische 50G- bis 400G-Module unter Verwendung von PAM4 Technologie.

Rechenzentren stellen derzeit auf optische PAM4-Module um, um den starken Anstieg des Kommunikationsverkehrs in Mobilfunknetzen zu bewältigen. Darüber hinaus unterstützen optische PAM4-Module für die Kommunikation im Einklang mit der Notwendigkeit einer einfacheren Konfiguration flexibler Netzwerke mehr Kommunikationsgeschwindigkeiten im Bereich von 50 Gbit/s bis 800 Gbit/s als die traditionelle NRZ-Technologie.

Bei optischen PAM4-Modulen, die verschiedene Geschwindigkeiten unterstützen, müssen die verschiedenen Modultypen auch auf der Geräteseite unterstützt werden. Darüber hinaus wurden beim herkömmlichen System Netzwerkausrüstung und optische Module von demselben Anbieter bezogen, aber das Streben nach Kosteneinsparungen besteht darin, dass Benutzer Geräte und Module von verschiedenen Anbietern beziehen.

Unter diesen Umständen muss die Interkonnektivität sichergestellt werden, nicht nur zwischen Schnittstellen auf der optischen Seite, sondern auch auf der elektrischen Seite. Um diese Interkonnektivität sicherzustellen, ist eine strenge Bewertung auf der Grundlage der IEEE 802.3 PHY-Layer-Standards erforderlich.

Um diese erhöhten Anforderungen an die Interkonnektivität zu erfüllen und gleichzeitig die Messungen an optischen PAM4-Schnittstellen zu unterstützen, hat das Unternehmen jetzt sein MP802.3A, das von vielen Herstellern als Abtastoszilloskop für die Herstellung optischer Module eingesetzt wird, um Unterstützung für die Messung von elektrischen IEEE 4 PAM2110-Schnittstellen erweitert.