SMART Modular Technologies propose les nouveaux lecteurs flash T5EN PCIe/NVMe M.2 2280 et U.2 pour les applications aérospatiales, de défense et industrielles qui exigent un stockage de mémoire durable, robuste et sécurisé.
Élargissant sa famille de disques SSD T5E, les nouveaux disques offrent des capacités allant jusqu'à 8 To (M.2 jusqu'à 4 To) de performances Gen3x4 utilisant le flash TLC 3D avec prise en charge pSLC.
« Avec la tendance croissante au NVMe dans les systèmes embarqués, le développement du T5EN était une progression naturelle et un complément à notre gamme de produits existante », explique Mike Guzzo, directeur principal de la gamme de produits Flash RUGGED de SMART Modular. Guzzo ajoute : « Fondamentalement, le T5EN comprend tous les avantages existants du T5E, tels qu'une très grande capacité, une fiabilité supérieure pour les conditions environnementales extrêmes, la prise en charge de l'algorithme d'effacement militaire, ainsi que le cryptage 256 bits. Ces avantages équivalent à un niveau de protection plus élevé pour les données critiques et inspirent confiance dans la fiabilité globale des périphériques de stockage de données qui prennent en charge les architectures NVMe hautes performances.
Le M.2 module et le lecteur U.2 sont fournis dans une cellule NAND 3D à trois niveaux et une cellule pseudo-simple niveau. Les deux versions disposent d'un cryptage AES-XTS 256 bits, protégeant automatiquement les données écrites sur le disque. Les deux versions sont également conformes à OPAL 2.0, qui est un autre niveau d'auto-cryptage qui garantit que les données sur les SSD ne sont pas accessibles au personnel non autorisé.
La fabrication d'un SSD durable et robuste commence par la conception. L'entreprise sélectionne tous ses composants et les teste pendant la phase de développement technique pour garantir une fiabilité et des performances élevées. Le processus de conception inclut également des marges plus élevées pour le routage des signaux, des circuits imprimés plus épais et des boîtiers durables.