เปิดตัวโพรบแบบแยกส่วนแบบออปโตขนาดกะทัดรัด

บริษัท Saelig, Inc นำเสนอโพรบแบบแยก Opto ซีรีส์ Micsig SigoFIT ซึ่งมีคุณลักษณะแอมพลิจูด/ความถี่ที่ยอดเยี่ยม และให้อัตราส่วนการปฏิเสธโหมดทั่วไปที่ยอดเยี่ยม (CMRR สูงถึง 112dB ที่ 100MHz, มากกว่า 100dB ที่ 500MHz) พื้นเสียงรบกวนเต็มช่วงคือ สูงสุด 1.1mVrms และค่าศูนย์ดริฟท์ตลอด 24 ชั่วโมงน้อยกว่า 50uV โพรบเหล่านี้มีการแยกแสง SigOFIT ที่เป็นเอกสิทธิ์เฉพาะของ Micsig เทคโนโลยีซึ่งขับเคลื่อนจากระยะไกลด้วยแสงเลเซอร์หรือแบตเตอรี่ ทำให้มีการแยกสัญญาณที่สูงมาก แรงดันไฟฟ้า เพื่อช่วยให้วิศวกรเห็นสัญญาณจริงที่ไม่เสียหายภายในแบนด์วิธที่กำหนด

มีแบนด์วิดท์ห้ารุ่นสำหรับสัญญาณตั้งแต่ 100Hz ถึง 1GHz โดยมีหัววัดที่ใช้พลังงานจากแบตเตอรี่หรือเลเซอร์ LED แบบแยกออปโต สายวัดทดสอบอินพุตของโพรบ SigOFIT นั้นสั้นและมีสายโคแอกเซียลสำหรับการส่งจากหัววัด มีโหลดความจุอินพุตน้อยกว่า 3pF ซึ่งทำให้โพรบเหล่านี้ยอดเยี่ยมสำหรับการทดสอบอุปกรณ์ SiC และ GaN ที่สามารถเปลี่ยนแรงดันไฟฟ้าสูงในเวลาไม่กี่นาโนวินาที และสร้างฮาร์มอนิกความถี่สูงที่มีพลังงานสูงมาก แตกต่างจากดิฟเฟอเรนเชียลโพรบแบบดั้งเดิมซึ่งสามารถทดสอบได้เฉพาะสัญญาณแรงดันสูงเท่านั้น โพรบซีรีส์นี้สามารถใช้กับปลายลดทอนที่แตกต่างกันเพื่อทดสอบสัญญาณโหมดดิฟเฟอเรนเชียลตั้งแต่ ±1V ถึง ±2500V เพื่อให้ได้เอาต์พุตแบบเต็มช่วงและสัญญาณต่อสัญญาณรบกวนที่สูงมาก อัตราส่วน มีขนาดเล็กกว่าโพรบดิฟเฟอเรนเชียลแบบดั้งเดิมและด้วยทิปโพรบที่แม่นยำยิ่งขึ้น โพรบแยก SigOFIT นั้นง่ายกว่าและหลากหลายกว่าโพรบดิฟเฟอเรนเชียลทั่วไป ด้วยการตอบสนองที่รวดเร็วมาก สามารถทดสอบสัญญาณได้ทันทีหลังจากเปิดเครื่องโดยไม่ต้องรอช่วงอุ่นเครื่อง การปรับค่าศูนย์อัตโนมัติในเวลาน้อยกว่าหนึ่งวินาทีช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวัดสัญญาณที่แม่นยำแบบเรียลไทม์ แม้ที่แบนด์วิธสูงสุด หัววัด SigOFIT ยังคงมี CMRR ประมาณ 100dB เพื่อยับยั้งการสั่นที่เกิดจากสัญญาณรบกวนโหมดทั่วไปที่มีความถี่สูงได้อย่างสมบูรณ์แบบ

การใช้งานรวมถึงการออกแบบมอเตอร์ไดรฟ์ กำลังไฟ Converter, และบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ การออกแบบและวิเคราะห์ GaN, SiC และ IGBT อุปกรณ์สะพานครึ่ง/เต็ม; การออกแบบอินเวอร์เตอร์ ยูพีเอส และสวิตชิ่งพาวเวอร์ซัพพลาย การทดสอบความปลอดภัยสำหรับการใช้งานไฟฟ้าแรงสูง แบนด์วิธสูง การประเมินอุปกรณ์ไฟฟ้า การวัดการแบ่งปัจจุบัน การแก้ไขปัญหา EMI และ ESD; และการวัดแบบลอยตัว

ดูเพิ่มเติม : โมดูล IGBT | จอแสดงผล LCD | ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์