Đột phá trong thử nghiệm cảm biến từ trường 3D tiên tiến

Hprobe, nhà cung cấp Semiconductor Thiết bị kiểm tra tự động (ATE) cho các thiết bị từ tính, đã chứng minh một thiết kế máy phát từ trường 3D mới mang lại độ chính xác từ trường dưới 5µT (5 microteslas) để thăm dò mức wafer của cảm biến từ trường góc 3D.

Hoạt động với các trạm thăm dò wafer tự động và máy kiểm tra điện bên ngoài, điều này được công ty mô tả là một 'bước đột phá lớn'. cung cấp hiệu suất thông lượng đáng kể để thử nghiệm từ kế 3D tiên tiến.

Hệ thống này cung cấp cả tính linh hoạt và khả năng tương thích cao với nền tảng người dùng cuối hiện có cũng như các yêu cầu sản xuất số lượng lớn. Đây là sự phát triển mới nhất trong máy tạo từ trường 3D được cấp bằng sáng chế của Hprobe công nghệ để thử nghiệm đơn lẻ và đa địa điểm ở cấp độ tấm bán dẫn, trong từ trường.

“Với thành tựu mới này, chúng tôi cho phép triển khai các chiến lược kiểm tra mới để cải thiện hiệu quả kiểm tra, cho phép xác nhận chính xác hơn cảm biến sản phẩm, ”Siamak Salimy, CTO và đồng sáng lập Hprobe giải thích.

Cảm biến từ tính tiên tiến được sử dụng cho các ứng dụng ô tô, tiêu dùng và công nghiệp khác nhau để trích xuất thông tin định vị, góc, cường độ và hướng. Chúng cảm nhận các thông số vật lý bằng cách sử dụng từ trường và truyền các phản ứng điện để xử lý thêm. Để xác nhận các cảm biến này cho các ứng dụng cuối, chúng phải được thử nghiệm dưới từ trường 3D cực kỳ khắt khe và chính xác.

Thiết kế máy phát từ trường 3D của Hprobe có thể được tích hợp vào thiết bị hiện có của công ty, bao gồm đầu thử nghiệm với máy phát từ trường 3D được robot hóa. Nó cũng bao gồm một hệ thống giám sát và hiệu chuẩn hiện trường. Nó được xây dựng để giao tiếp với máy kiểm tra điện hiện có sẵn hoặc được cung cấp với máy kiểm tra đầy đủ như một giải pháp chìa khóa trao tay. Nó đi kèm với phần mềm chuyên dụng để khách hàng thực hiện các thử nghiệm của riêng họ và tạo ra các mẫu từ trường 3D tùy chỉnh