De nieuwste software-update van het OLYMPUS CIX100 reinheidsinspectiesysteem bevat een nieuwe microscoopmodus, waardoor fabrikanten van onderdelen een alles-in-één beeldoplossing krijgen voor deeltjesanalyse en microscoopinspecties.
Het systeem is een kant-en-klare oplossing die wordt toegepast op technische reinheidsinspectie met een begeleide workflow, analysetools en geïntegreerde industriestandaarden. Een geoptimaliseerde autofocusroutine en optionele overzichtsscan in CIX-softwareversie 1.5 versnellen de geautomatiseerde analyse, waardoor het nog eenvoudiger wordt om snel herhaalbare resultaten te leveren. Met de nieuwe microscopiemodus kunnen gebruikers de speciale werkstroom voor reinheidsinspectie verlaten om microscopische beeldvorming voor andere toepassingen uit te voeren.
De mogelijkheden van de microscoopmodus kunnen worden uitgebreid met een reeks optionele oplossingen voor materiaalanalyse, zodat gebruikers het systeem kunnen aanpassen aan hun vereisten.
De update bevat een gestroomlijnde workflow voor routinematige netheidstoepassingen waarbij de overzichtsscan niet nodig is. Gebruikers kunnen profiteren van sneller scannen met een deactiveringsoptie, evenals verbeterde autofocus en vezelclassificatie.
Nu ondersteunt het systeem de ASTM E1216-11-standaard, inclusief de berekening van de SCI.
Nieuwe systemen worden geleverd met CIX software versie 1.5 en Microsoft SQL Server 2017.