Последнее обновление программного обеспечения системы контроля чистоты OLYMPUS CIX100 включает новый режим микроскопа, который дает производителям компонентов универсальное решение для визуализации для анализа частиц и инспекций под микроскопом.
Система представляет собой готовое решение для проверки технической чистоты с управляемым рабочим процессом, инструментами анализа и интегрированными отраслевыми стандартами. Оптимизированная процедура автофокусировки и дополнительное обзорное сканирование в программном обеспечении CIX версии 1.5 ускоряют автоматизированный анализ, что еще больше упрощает получение повторяемых результатов. Новый режим микроскопии позволяет пользователям оставить специальный рабочий процесс проверки чистоты, чтобы получить микроскопические изображения для других приложений.
Возможности режима микроскопа можно расширить с помощью набора дополнительных решений для анализа материалов, позволяющих пользователям настраивать систему в соответствии со своими требованиями.
Обновление включает в себя оптимизированный рабочий процесс для обычных приложений очистки, где обзорное сканирование не требуется. Пользователи могут получить выгоду от более быстрого сканирования с возможностью отключения, а также от улучшенной автофокусировки и классификации волокон.
Теперь система поддерживает стандарт ASTM E1216-11, включая расчет SCI.
Новые системы поставляются с программным обеспечением CIX версии 1.5 и Microsoft SQL Server 2017.