Seis de los siete grandes desafíos identificados se centran en lo siguiente: desarrollar metrología para la pureza y las propiedades de los materiales; futura fabricación de microelectrónica; embalaje avanzado para integrar componentes fabricados por separado; mejorar la seguridad de los dispositivos en toda la cadena de suministro; mejorar las herramientas para modelar y simular Semiconductores materiales, diseños y componentes; y mejorar el proceso de fabricación. El desafío final destaca la necesidad de estandarizar nuevos materiales, procesos y equipos.
“Hemos recibido muchos comentarios de las partes interesadas de la industria, la academia y el gobierno que nos ayudarán a proporcionar servicios de medición, estándares, métodos de fabricación y bancos de pruebas que se necesitan con urgencia”, dice la directora del NIST, Laurie Locascio.
El NIST es el único laboratorio nacional dedicado a la ciencia de la medición, o metrología, y la Ley CHIPS y Ciencia recientemente promulgada exige al NIST que lleve a cabo investigación y desarrollo (I+D) en metrología crítica en apoyo del sector nacional. semiconductor industria para permitir avances y avances para la microelectrónica de próxima generación.
La metrología es necesaria en todas las etapas de los semiconductores. la tecnología desarrollo, desde I+D básico y aplicado en el laboratorio hasta la demostración de prueba de concepto, creación de prototipos a escala, fabricación en fábrica, montaje y embalaje, y verificación del rendimiento antes de la implementación final.
El informe publicado hoy se basa en los aportes recibidos a través de una serie de talleres de metrología de semiconductores convocados por NIST que reunió a más de 800 participantes de la industria, la academia y el gobierno. También se recopilaron aportes a través de una Solicitud de información del Departamento de Comercio y comentarios directos de la industria.
El informe está en:
“Oportunidades estratégicas para la fabricación de semiconductores de EE. UU.: facilitar el liderazgo y la competitividad de EE. UU. a través de avances en medidas y estándares” puede