שישה מתוך שבעת האתגרים הגדולים שזוהו מתמקדים בדברים הבאים: פיתוח מטרולוגיה לטוהר החומרים ולתכונותיהם; ייצור מיקרו-אלקטרוניקה עתידי; אריזה מתקדמת לשילוב רכיבים שיוצרו בנפרד; שיפור האבטחה של מכשירים ברחבי שרשרת האספקה; שיפור כלים למידול והדמיה סמיקונדקטור חומרים, עיצובים ורכיבים; ושיפור תהליך הייצור. האתגר האחרון מדגיש את הצורך בסטנדרטיזציה של חומרים, תהליכים וציוד חדשים
"קיבלנו משוב נרחב מבעלי עניין בתעשייה, באקדמיה ובממשלה שיסייעו לנו לספק שירותי מדידה נחוצים בדחיפות, תקנים, שיטות ייצור ומיטות בדיקה", אומרת מנהלת NIST לורי לוקאסיו.
NIST היא המעבדה הלאומית היחידה המוקדשת למדע מדידה, או למטרולוגיה, וחוק ה-CHIPS והמדע שחוקק לאחרונה קורא ל-NIST לבצע מחקר ופיתוח מטרולוגי קריטי (מו"פ) לתמיכה במשק המקומי סמיקונדקטור התעשייה כדי לאפשר התקדמות ופריצות דרך עבור הדור הבא של מיקרואלקטרוניקה.
יש צורך במטרולוגיה בכל שלבי המוליך למחצה טֶכנוֹלוֹגִיָה פיתוח, ממחקר ופיתוח בסיסי ויישומי במעבדה ועד להדגמת הוכחה לקונספט, יצירת אב טיפוס בקנה מידה, ייצור במפעל, הרכבה ואריזה, ואימות ביצועים לפני הפריסה הסופית.
הדו"ח שפורסם היום מסתמך על מידע שהתקבל באמצעות סדרה של סדנאות מטרולוגיה של מוליכים למחצה שכונסו על ידי NIST, אשר ריכזו יותר מ-800 משתתפים מהתעשייה, האקדמיה והממשלה. מידע נאסף גם באמצעות בקשה של משרד המסחר למידע ומשוב ישיר מהתעשייה.
הדו"ח נמצא בכתובת:
"הזדמנויות אסטרטגיות לייצור מוליכים למחצה בארה"ב: הקלה על מנהיגות ותחרותיות בארה"ב באמצעות התקדמות במדידות ובסטנדרטים"