Anritsu Company akan menyelenggarakan serangkaian Anritsu Test Talks pada Rabu, 18 Agustus selama DesignCon, konferensi desain sistem dan komunikasi berkecepatan tinggi. Pendidikan sehari penuh dan demonstrasi langsung akan memberikan wawasan kepada insinyur chipset, board, dan desain sistem tentang teknologi berkecepatan tinggi yang sedang berkembang, termasuk PCIe 5.0 dan 6.0, dan proses pengujian yang efektif untuk memastikan kinerja desain.
Semua sesi akan diadakan di Ruang 210F San Jose McEnery Convention Center. Insinyur berpengalaman dengan keahlian di masing-masing teknologi akan memimpin setiap sesi yang dilakukan oleh Anritsu, Sponsor Diamond DesignCon.
Tujuh Sesi dan Demonstrasi Edukasi
Tujuh Pembicaraan Tes Anritsu akan dilakukan dari pukul 9 sampai 00 pada hari Rabu, 5 Agustus. Sesinya berkisar antara 00-18 menit. Sinopsis Test Talks adalah:
Pentingnya Ekstraksi Peeling Berurutan dan De-embedding Saat Merancang PCB
Waktu: 9: 00 am - 9: 40 am
Abstrak: Insinyur merancang dan menguji perangkat diferensial, khususnya papan sirkuit tercetak (PCB), mengandalkan penganalisis jaringan vektor (VNA) untuk mempersingkat siklus desain dan mempercepat waktu-ke-pasar. Karena desain meluas ke frekuensi yang lebih tinggi dan ruang papan menjadi premium, alat VNA khusus dan teknik pengujian menjadi penting. Peserta akan belajar tentang pendekatan ini, termasuk ekstraksi peeling berurutan dan de-embedding.
Open House untuk Demo Langsung Uji PCIe 5.0 RX LEQ
Waktu: 10:00 – 11:00 (Peserta dapat berkunjung kapan saja selama satu jam)
Abstrak: Tes PCIe 5.0 LEQ langsung menggunakan perangkat Generasi 5 (G5) yang sedang diuji (DUT) akan dilakukan. Pengunjung akan mengalami prosedur pengujian tes G5 LEQ menggunakan Anritsu Signal Quality Analyzer-R MP1900A.
Solusi Uji PAM4 BER dan JTOL untuk PCIe 6.0 dan Lebih Lanjut
Waktu: 11: 05 am - 11: 45 am
Abstrak: Sesi ini akan memberikan gambaran tentang 32 Gbaud ke atas, uji BER PAM4, dan pengukuran Jitter Tolerance (JTOL). Ini juga akan mencakup Forward Error Correction (FEC) dan analisis kesalahan burst. Insinyur yang terlibat dalam aplikasi PCIe 6.0 atau 400GE/800GE akan menganggap sesi ini sangat informatif.
Demo Langsung PAM4 BERT dan JTOL, FEC dan Analisis Kesalahan Burst
Waktu: 12: 00 pm - 12: 45 pm
Abstrak: Peserta akan melihat demonstrasi langsung uji PAM4 JTOL dan analisis kesalahan burst FEC menggunakan MP1900A. Demo akan menunjukkan:
- Ikhtisar dan Kemampuan Produk PAM4 BERT
- PAM4 BER dan Uji Toleransi Jitter
- Pengambilan dan Analisis Kesalahan Burst FEC
Solusi Uji Otomotif
Waktu: 2: 00 pm - 2: 40 pm
Abstrak: Sesi ini akan memberikan gambaran tentang solusi pengujian Anritsu untuk otomotif. Di antara teknologi dan aplikasi yang akan dibahas adalah 5G/seluler, infotainment/konektivitas/Bluetooth® /WLAN, ADAS, RADAR, C-V2X, dan PCIe.
Pengujian PHY Standar USB Tipe-C. Apa yang sama, dan apa yang berbeda?
Waktu: 3: 00 pm - 3: 40 pm
Abstrak: USB4 dan DisplayPort telah mengadopsi spesifikasi Intel Thunderbolt PHY sebagai "blok pembangun" pada lapisan fisik. Sesi ini akan membahas persamaan dan perbedaan antara standar tersebut terkait dengan Compliance Test Specifications (CTS) dan metodologi pengujian.
Uji Kepatuhan LEQ Penerima PCIe 5.0
Waktu: 4: 00 pm - 5: 00 pm
Abstrak: Peserta dari Anritsu Test Talk terakhir akan mempelajari tentang metode untuk memecahkan tantangan receiver pengujian dan pengukuran baru untuk PCIe 5.0 pada 32.0 GT/s. Topik yang akan dibahas meliputi:
- Program kepatuhan PCI-SIG0
- Tantangan dan panduan terbaru tentang pengujian receiver 32 GT/s
- Nuansa 32 GT/s menekankan kalibrasi mata dan menangani backchannel dengan kehilangan tinggi dengan pemerataan
- Memecahkan tantangan validasi dengan solusi penerima
Sesi pendidikan gratis dan terbuka untuk semua peserta DesignCon.
Untuk informasi lebih lanjut, kunjungi www.anritsu.com
-
Kecerdasan Buatan Simbolik yang Tepat untuk Penilaian Keadilan AI yang Lebih Cepat dan Lebih Baik
-
electronica India dan Productronica India bersama dengan MatDispens Dijadwalkan Ulang hingga 16–18 Desember 2021
-
Honda Luncurkan Skuter Listrik U-GO Baru
-
Dek Dikosongkan untuk Assam State Electronics Development Corporation Limited untuk Konektivitas Internet Berkecepatan Tinggi
Waktu ELE
-
Waktu ELEhttps://www.eletimes.com/author/eletimes-newsDioda Rugi Sangat Rendah Baru untuk Generator Kendaraan Ringan Mengurangi Emisi CO2
-
Waktu ELEhttps://www.eletimes.com/author/eletimes-newsTata Group Ingin Masuk ke Manufaktur Chip
-
Waktu ELEhttps://www.eletimes.com/author/eletimes-newsOrange, Sierra Wireless, LACROIX, dan STMicroelectronics bergabung dan meluncurkan IoT Continuum untuk Meningkatkan dan Mempercepat Transformasi Digital Pasar Industri
-
Waktu ELEhttps://www.eletimes.com/author/eletimes-newsMerenggang Sensor Bahan untuk Kekuatan yang Dapat Dipakai Elektronik Itu Bekerja dalam Cuaca Dingin yang Ekstrim