Anritsu Company ospiterà una serie di Anritsu Test Talks mercoledì 18 agosto durante DesignCon, la principale conferenza sulla progettazione di sistemi e comunicazioni ad alta velocità. L'intera giornata di formazione e dimostrazioni dal vivo fornirà ai progettisti di chipset, schede e sistemi approfondimenti sulle tecnologie emergenti ad alta velocità, tra cui PCIe 5.0 e 6.0, e processi di test efficaci per garantire le prestazioni di progettazione.
Tutte le sessioni si terranno nell'aula 210F del San Jose McEnery Convention Center. Ingegneri esperti con esperienza nelle rispettive tecnologie guideranno ogni sessione condotta da Anritsu, un DesignCon Diamond Sponsor.
Sette sessioni educative e dimostrazioni
Sette Anritsu Test Talks si terranno dalle 9:00 alle 5:00 mercoledì 18 agosto. Le sessioni avranno una durata di 40-60 minuti. Sinossi dei colloqui di prova sono:
Importanza dell'estrazione e del de-embedding sequenziali durante la progettazione di PCB
Orari: 9: 00 am - 9: 40 am
Abstract: Gli ingegneri che progettano e testano dispositivi differenziali, in particolare i circuiti stampati (PCB), si affidano agli analizzatori di rete vettoriali (VNA) per abbreviare i cicli di progettazione e accelerare il time-to-market. Poiché i progetti si estendono a frequenze più elevate e lo spazio sulla scheda è limitato, gli strumenti VNA e le tecniche di test specifici acquistano importanza. I partecipanti impareranno a conoscere questi approcci, inclusa l'estrazione sequenziale del peeling e il de-embedding.
Open House per PCIe 5.0 RX LEQ Test Live Demo
Orari: 10:00 – 11:00 (I partecipanti possono visitare in qualsiasi momento durante l'ora)
Abstract: Verranno condotti test live PCIe 5.0 LEQ utilizzando un vero dispositivo di generazione 5 (G5) sotto test (DUT). I visitatori sperimenteranno la procedura di test del test G5 LEQ utilizzando l'Anritsu Signal Quality Analyzer-R MP1900A.
Soluzione di test PAM4 BER e JTOL per PCIe 6.0 e oltre
Orari: 11: 05 am - 11: 45 am
Abstract: Questa sessione fornirà una panoramica di 32 Gbaud e oltre, test PAM4 BER e misurazioni della tolleranza al jitter (JTOL). Comprenderà anche Forward Error Correction (FEC) e analisi degli errori burst. Gli ingegneri coinvolti nelle applicazioni PCIe 6.0 o 400GE/800GE troveranno questa sessione altamente istruttiva.
Demo live di PAM4 BERT e JTOL, FEC e analisi degli errori Burst
Orari: 12: 00 pm - 12: 45 pm
Abstract: I partecipanti vedranno una dimostrazione dal vivo del test PAM4 JTOL e dell'analisi dell'errore burst FEC utilizzando l'MP1900A. La demo mostrerà:
- PAM4 BERT Panoramica e funzionalità del prodotto
- PAM4 BER e test di tolleranza al jitter
- Acquisizione e analisi degli errori di burst FEC
Soluzioni per test automobilistici
Orari: 2: 00 pm - 2: 40 pm
Abstract: Questa sessione fornirà una panoramica delle soluzioni di test Anritsu per il settore automobilistico. Tra le tecnologie e le applicazioni da discutere ci sono 5G/cellulare, infotainment/connettività/Bluetooth® /WLAN, ADAS, RADAR, C-V2X e PCIe.
Test PHY standard USB di tipo C. Cos'è lo stesso e cosa c'è di diverso?
Orari: 3: 00 pm - 3: 40 pm
Abstract: USB4 e DisplayPort hanno adottato la specifica Thunderbolt PHY di Intel come "blocco costitutivo" a livello fisico. Questa sessione discuterà le somiglianze e le differenze tra questi standard in relazione alle specifiche del test di conformità (CTS) e alle metodologie di test.
Test di conformità LEQ del ricevitore PCIe 5.0
Orari: 4: 00 pm - 5: 00 pm
Abstract: I partecipanti all'Anritsu Test Talk finale apprenderanno i metodi per risolvere le nuove sfide dei ricevitori di test e misurazione per PCIe 5.0 a 32.0 GT/s. Gli argomenti da trattare includono:
- Programma di conformità PCI-SIG0
- Sfide e ultime linee guida sui test dei ricevitori da 32 GT/s
- Sfumature della calibrazione dell'occhio stressato da 32 GT/s e gestione dei backchannel ad alta perdita con equalizzazione
- Risolvere le sfide di convalida con una soluzione per il ricevitore
Le sessioni educative sono gratuite e aperte a tutti i partecipanti al DesignCon.
Per ulteriori informazioni, visitare www.anritsu.com
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