Texas Instruments, 새로운 SAR ADC 제품군 출시

Texas Instruments (TI)는 산업 설계에서 고정밀 데이터 수집을 가능하게하는 새로운 계열의 SAR (연속 근사 레지스터) ADC (아날로그-디지털 컨버터) 제품군을 통해 고속 데이터 컨버터 포트폴리오를 확장했습니다.

낮은 전력 소비로 동급 최고의 동적 범위를 제공하는 ADC3660 제품군에는 14 ~ 16MSPS 범위의 샘플링 속도에서 18 비트, 10 비트 및 125 비트 분해능의 XNUMX 개의 SAR ADC가 포함되어있어 설계자가 신호 분해능을 개선하고 배터리 수명을 연장 할 수 있습니다. 시스템 보호를 강화합니다.

고속 디지털 제어 루프에서 ADC는 복잡한 시스템에서 작동하여 전압 또는 전류는 전력 관리 시스템의 중요한 구성 요소에 대한 비용이 많이 드는 손상을 방지하는 데 도움이되며 시스템이 시스템 고장을 방지하기위한 신속한 결정을 내리는 데 더욱 중요 해지고있어 더 빠른 속도에서 더 높은 정밀도가 요구됩니다.

ADC3660 제품군을 사용하는 시스템 설계자는 8MSPS, 125 비트, 이중 채널 ADC14로 3664 클록 (XNUMXns) ADC 지연을 달성 할 수 있습니다. 이 제품군의 매우 짧은 지연 시간은 다양한 산업 시스템의 고속 디지털 제어 루프를 통해 전압 및 전류 스파이크를보다 정확하게 모니터링하고 이에 대응하여 다음과 같은 애플리케이션에서 도구 정밀도를 향상시킵니다. 반도체 제조 시스템.

지금까지 산업용 시스템을 설계하는 엔지니어는 뛰어난 소음 성능과 낮은 전력 소비 중에서 선택해야했습니다. ADC3660 제품군은 이러한 트레이드 오프를 제거합니다.

예를 들어, ADC3683은 84.2dB의 신호 대 잡음비 (SNR)와 -160dBFS / Hz의 잡음 스펙트럼 밀도를 제공하는 동시에 휴대용 국방 라디오와 같은 협 대역 주파수 애플리케이션에서 잡음 성능을 개선합니다. 채널당 94mW.

ADC3660 제품군의 빠른 샘플링 속도와 통합 기능은 설계자가 시스템의 구성 요소 수를 줄이는 데 도움이됩니다. 예를 들어, 두 배의 채널 밀도에서 경쟁 3683 비트 장치보다 18 배 더 빠르게 샘플링하는 ADC75은 원하는 신호에서 고조파를 더 멀리 밀어내는 기술인 오버 샘플링을 가능하게합니다. 이를 통해 설계자는 앤티 앨리어싱 필터 복잡성과 시스템 구성 요소 수를 XNUMX %까지 줄일 수 있습니다.

설계 복잡성을 줄이는 다른 기능으로는 설계자가 시스템에서 원치 않는 잡음과 고조파를 쉽게 제거하고 SNR 및 스퓨리어스 없는 동적 범위를 최대 15dB까지 높일 수 있는 온칩 데시메이션 옵션이 있습니다. 보완적인 금속 산화물과 함께 이러한 데시메이션 옵션 반도체 (CMOS) 인터페이스를 통해 설계자는 FPGA(필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이) 대신 Arm 기반 프로세서 또는 디지털 신호 프로세서와 함께 이러한 ADC를 사용할 수 있으므로 시스템 비용을 낮추는 데 도움이 됩니다.

또한 복잡한 수치 제어 발진기가있는 통합 디지털 다운 컨버터는 필요한 프로세서 리소스의 양을 줄여줍니다.